اسلاید (پاورپوینت) جزوه دانشگاهی آزمون و آزمونپذیری سیستم های روی تراشه (دکتر نورمندی پور)
نوع فایل: pdf
تعداد صفحات: 210 اسلاید
45,000 تومان 25,000 تومان
توضیحات
سرفصل :
فصل اول:مقدمه ای بر آزمایش
فصل دوم:تولید الگوی آزمایش
فصل سوم:تولید آزمایش برای مدارات ترکیبی
فصل چهارم:تولید آزمایش برای حافظه ها
فصل پنجم:تولید آزمایش برای اتصالات
فصل ششم:تکنیک خودآزمون توکار Built-In Self Test (BIST)
فصل هفتم: آزمایش سیستم بر تراشه (SOC) استاندارد IEEE 1500
فصل نهم: IEEE 1149.1 توسعه یافته برای آزمایش NOC
فصل دهم: IEEE 1500 توسعه یافته برای آزمایش SOC
نقد وبررسی
نقد بررسی یافت نشد...